CST-50 冲击试样缺口投影仪

性能说明

* 该投影仪是根据GB/T229-1994《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查、对比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型或U型冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样 V型和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。